HIRAYAMA平山中國代理高加速壽命試驗箱 采用雙槽結構及干濕球溫濕度控制方式，主要用于電子元器件、半導體器件的加速壽命測試和失效分析。設備支持飽和（STD）及不飽和（HUM）兩種試驗模式，可滿足IEC、JESD、AEC-Q100及GB/T2423.40等行業標準。具備多重安全保護及40個電壓施加端子，適用于半導體、汽車電子及材料可靠性研究。

HIRAYAMA中國代理高加速壽命試驗箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗中自動鎖緊，安全可靠。通過緩降壓、排氣、排水系統控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。

HIRAYAMA中國代理高加速壽命試驗箱：PC-422R8D高加速壽命試驗箱（Hast），HIRAYAMA的雙箱體系統精度高，測試箱體和蒸汽發生器相互合作，獨立動作，與單箱體系統蒸汽在測試箱體內生成不同。測試箱體（干）與蒸汽發生器（濕）閥溫度的相互干就達到了*低。

平山中國代理高加速壽命試驗箱（Hast）：PC-422R8D高加速壽命試驗箱（Hast），HIRAYAMA的雙箱體系統精度高，測試箱體和蒸汽發生器相互合作，獨立動作，與單箱體系統蒸汽在測試箱體內生成不同。測試箱體（干）與蒸汽發生器（濕）閥溫度的相互干就達到了*低。

平山HIRAYAMA中國代理高加速壽命試驗箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗中自動鎖緊，安全可靠。通過緩降壓、排氣、排水系統控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。